温度逆境胁迫后，黄瓜幼苗体内O2^-的产生速率和MDA含量均明显升高，温度逆境胁迫和常温恢复2d后，O2^-的产生速率都与各品系黄瓜幼苗对温度逆境的耐性呈负相关，说明在温度逆境胁迫过程中，活性氧确实是对黄瓜幼苗产生毒害的重要方式。在遭受温度逆境胁迫后，黄瓜幼苗体内酶促和非酶促防御系统均遭到破坏。AsA含量、CAT和POD活性均显著下降，低温胁迫后，对低温耐性强的品系SOD活性上升，对低温耐性弱的品系SOD活性降低。高温处理后，各品系SOD活性均降低。表明膜系统的损伤与细胞内自由基引发的膜脂过氧化有关。