以2个优选的甜仁山杏的幼果为试材．以生产中主栽大扁杏品种“优一”和野生山杏（山苦1、山苦2）为对照，通过冷冻处理，以胚褐变率、电导率和MDA值为指标，研究了甜仁山杏优株的抗寒性。结果表明。供试2个优选的甜仁山杏品系胚褐变率低，半致死温度（LT50）较对照低0．51～0．94℃。供试5个品系抗寒性的顺序依次为山甜1〉山甜2〉山苦1、山苦2〉“优一”。